NANOMAGNETICS

Microscopio de fuerza atómica de alto rendimiento hpAFM


Existencia Código: hpAFM

Sobre Pedido 55-5220-0271

El hpAFM es un microscopio de fuerza atómica avanzado que aporta un nuevo nivel de rendimiento, funcionalidad, diseño y capacidad.

Diseñado para minimizar el tiempo necesario para obtener los mejores resultados. Tanto si puede trabajar en condiciones líquidas como en condiciones atmosféricas, es para todo el mundo, desde la ciencia de los materiales hasta la ciencia de la vida.

Ofreciendo excelentes características como diseño sin alineación, escáner de flexión de bucle cerrado, escáner z desacoplado, microscopio de vídeo de 10 MP y modos de funcionamiento flexibles.


Diseño sin alineación
Cada cantilever montado en el hpAFM, ya sea en aire o en líquido, se alineará de forma automática y precisa para continuar los experimentos sin necesidad de volver a alinear el láser y el fotodiodo. Todos los cantilevers están equipados con ranuras de alineación o aptos para la alineación-serie se alinearán exactamente cuándo se monten.

Todos los principales fabricantes de cantilevers tienen este tipo de cantilevers para diferentes modos.

Escáner de flexión de bucle cerrado
El escáner XY basado en flexión de hpAFM utiliza un sensor óptico para supervisar la posición de la platina en tiempo real. Estas lecturas retroalimentan al controlador para proporcionar corrección de errores en el escaneado. El control de bucle cerrado garantiza que el escáner piezoeléctrico alcance la posición comandada deseada. El control de bucle cerrado proporciona un posicionamiento rápido y preciso con una deriva piezoeléctrica mínima, lo cual es esencial para el escaneo AFM.

Escáner z desacoplado
Una de las configuraciones de escáner de AFM más utilizadas es el escáner de tubo debido a su fácil fabricación. Sin embargo, tiene algunas desventajas: debido a su geometría, los escáneres de tubo tienen no linealidad, especialmente arqueamiento, cuando se utiliza todo el rango del escáner.

En el hpAFM con escáneres xy y z desacoplados, el escáner xy se coloca debajo de la muestra, mientras que el escáner z se coloca en el cabezal para reducir la interferencia entre los escáneres.

Microscopio óptico

Dispone de un microscopio óptico muy bueno que tiene una resolución óptica de 700 nm con zoom óptico y enfoque motorizados de 5X controlados por software. La cámara digital de 8 Mp da la oportunidad de ver la muestra desde arriba y permite al usuario ir a un área específica en la superficie de la muestra con la misma calidad ya sea en aire o líquido.

Modos de funcionamiento

El microscopio puede funcionar en los siguientes modos:
-Modo de contacto AFM
-Microscopio de Fuerza Lateral (LFM)
-AFM en modo dinámico e imagen de fase
-Modo AFM sin contacto con PLL digital
-AFM líquido
-Microscopio de fuerza magnética (MFM)
-Microscopio de fuerza electrostática (EFM)
-Microscopía de efecto túnel (STM)
-Microscopio de fuerza de respuesta piezoeléctrica (PRFM)
-AFM conductivo (CAFM) / Microscopía de barrido de resistencia a la dispersión (SSRM)
-Litografía AFM (rayado)
-Modo de modulación de fuerza
-Microscopía de fuerza con sonda Kelvin (KPFM)
-Imágenes nanomecánicas (NMI)
-AFM electroquímico (EC-AFM)
-Nanoindentación
-PFM avanzada