NANOMAGNETICS

Magnetómetro de muestras vibrantes Magnetómetro


Existencia Código: Magnetómetro

Sobre Pedido 55-5220-0271

El Magnetómetro Vibratorio de Muestras MI combina una alta sensibilidad (5e-7 emu), una excelente repetibilidad y un manejo sencillo. El NMI-VSM tiene un diseño ergonómico y un software que facilita su uso al investigador. El cabezal de accionamiento del VSM está diseñado para una sustitución fácil y sencilla de las muestras.

Características Principales:

-Frecuencia de oscilación VSM (calibrada): 1-100 Hz
-Tamaño de muestra de hasta 6 mm de diámetro
-Rango de amplitud de oscilación VSM de 0.1 mm a 5mm


Alto rango de medición
Las opciones de temperatura incluyen un criostato, un horno de alta temperatura y un inserto de temperatura variable de una sola etapa. El rango de temperatura combinado de las opciones es de 2 K a 1000 K. El campo magnético con electroimán es de 2,5T, con la combinación de criostato, el campo magnético es de hasta 14T.

Parámetros de medición del VSM
- Frecuencia de oscilación VSM (calibrada): 1-100Hz
- Rango de amplitud de oscilación VSM de 0 1 mm - 5mm
- Tamaño de la muestra de hasta 6 mm de diámetro

Parámetros de sensibilidad
- Sensibilidad RMS 5 * 10-7 emu
- Alta estabilidad diaria
- Excelente reproducibilidad

Propiedades del sistema
- Rápido y fácil de usar con el horno/criostato siempre instalado en el sistema de medición y listo para su uso
- Fuente de alimentación magnética refrigerada por aire
- Velocidad de rampa del campo magnético Determinada por el imán y la fuente de alimentación
- La temperatura y el campo magnético pueden variar durante la medición
- Configuración longitudinal]
- Sistema RT: El campo magnético está a lo largo del eje horizontal, la vibración VSM y la detección de momento están a lo largo del eje vertical
- Sistema criogénico: Campo magnético, vibración VSM y detección de momento a lo largo del eje vertical, hasta 14T campo magnético
- Propiedades del sistema criogénico

Geometría
- Soporte de muestras adecuado para muestras a granel y de película fina
- Soporte de muestras configurable para mediciones de campo paralelas y verticales